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2026/07/30 13:16:00

光焱科技（7728）今（30）日表示，旗下針對量產需求開發的矽光子光缺陷檢測設備Night Jar-H已完成開發，目前已與國際一線大廠完成PoT（Proof of Technology，技術可行性驗證）驗證，公司表示，後續將陸續展開HVM（High Volume Manufacturing）量產驗證，評估導入實際製造流程與量產環境的可行性，設備驗證預計於今年底完成。

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2026/07/09 17:31:00

PIC（光子積體電路）晶片檢測設備廠光焱科技（7728）今日公布6月營收，達5360萬、年增114.18%，寫下單月歷史最佳紀錄，累計上半年營收達2.07億元，年增27.01%。

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2026/05/06 15:45:00

汎銓科技（6830）於2026年3月25日宣布向智慧財產及商業法院提起訴訟，指控光焱科技（7728）侵害其「光損偵測裝置」專利，並請求損害賠償新台幣2億元，今日光焱科技發佈重大訊息指出，已接獲智慧財產及商業法院送達之民事起訴狀繕本，矽光子專利戰正式開打。

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2026/03/27 14:06:00

矽光子檢測市場近期爆發專利之爭，汎銓向光焱提告侵害專利，汎銓柳紀綸董事長表示，矽光子漏光偵測所用的波段偵測器，就是汎銓專利範圍，光焱則表示，汎銓所宣稱之專利，係採用傳統「金相顯微鏡」組成之方案進行光損量測，而光焱科技則是基於次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術。

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2026/03/26 20:46:00

矽光子檢測專利戰不斷延燒，針對光焱科技今日駁斥汎銓「以舊打新」的回應，汎銓今日表示，正式提告專利侵權，並呼籲光焱應面對法律。

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2026/03/26 18:02:00

半導體檢測大廠汎銓（6830）於25日表示，光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案，已向智慧財產及商業法院提起訴訟，今日光焱駁斥汎銓專利專利侵權指控。

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2026/03/25 17:47:00

半導體檢測大廠汎銓今日表示，光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案，並同步於今日正式向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱科技股份有限公司侵害汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，對此，光焱科技回應所有核心產品均為團隊自主研發的自有技術。

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2026/03/25 15:21:00

半導體檢測大廠汎銓科技（6830）董事長柳紀綸今日表示，公司發現光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案。今日正式向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱科技股份有限公司侵害汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利。

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2025/11/20 16:42:00

專注於光電量測技術的光焱科技（7728）於今日舉行法人說明會，董事長柯歷亞表示，矽光子（SiPh）領域持續加溫，共同封裝光學（CPO）業務有望在2026年加溫。光焱推出矽光子晶片檢測平台NightJar，搶攻CPO檢測市場。